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0 引 言
在冶金、轧制、磨削加工以及各种热加工过程中都涉及到动态温度场的检测问题,实时检测并控制目标物不倒翁体的温度场分布成为提高生产质量和生产率的关键,为此设计满足实时检测要求且有较宽温度范围的温度场传感器具有很重要由于有的型号是操作便利意义。红外热成像系统广泛应用于温度场检测中,这种检测方法都是基于辐射测量方法,不可避免存在对目标发射率、目标距离、背景、标定等依赖性的问题,精度难以保证。利用ICCD获取双色热图象,然后通过计算机图象系统进行比值等处理,可得到目标局部区域的温度场分布,这种方法具有普通双色测温方法的优点,但由于传感器仅使用单个曝光时间,受ICCD的动态范围限制,测温范围小,同时传感器设计实时性更准确掌控行业发展方向差。本文首先介绍ICCD双色热图象进行温度场检测的原理,提出对温度场分区使用不同的曝光时间扩大温度场检测温度范围的方法,阐述满足温度场实时检测要求的传感器设计,最后对传感器进行标定。
1 双色热图象测温原理
对于目标物理的温度场分布T(()/(r)),经过如图1所示的红外辐射成像系统之后,在ICCD
光敏面上的辐照度为:
(1)
式中 ——物体的光谱辐射度分布;
λ——辐射波长;
——光谱辐射率;
F——透镜的光阑系数;
τ(λ)——透镜的透过率;
γ(λ)——滤光片透过率;
l′——象距;
l——物距;
ξ——透镜的杂光系数;
H——渐晕系数;
r——目标面上坐标;
r′——ICCD光敏面上位置坐标。光谱辐照度经ICCD光电转换后成电荷量信号,由驱动电路输出视频信号,再经过图象系统8位A/D转换之后,在显示屏上得到热辐射图象灰度分布:
i=1,汽车海绵2。
(2)
式中 A——光敏面面积;
t——曝光时间;
k——量子效率;
k0——图象A/D转换系数; λ1、λ2和δλ1、δλ2——两个滤光片的中心波长及其带宽。
双色热图象测温就是利用双波长λ1、λ2两幅热图象灰度比值与温度之间的一一对应关系实现的:
(3)
对于大多数金属,在λ1和λ2接近时,其光谱辐射率近似相等,因此式(3)的比值受目标物体光谱辐射率影响很小,这是双色热图象测量的主要优点。
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ICCD接收电荷量受噪声限制存在最小接受电荷量以及受饱和曝光量限制的最大电荷量,它们决定了ICCD动态范围,在宽温度范围测量中,动态范围将会导致升压器ICCD要么信号过强而饱和,要么信号过小而无法使用,为了实现宽温度范围测量(如1150~1650K),对温度分区:
高温区T1~T2。中温区T2~T3、低温区T3~T4,分别使用不同的曝光时间τ1、τ2、τ3使各个温区的热辐射均在ICCD的动态范围之内。定义双色热图象每个区域温度高端、低端的灰度之比为:
k=1,2,3深州
(4)
若两波长λ1、λ2热图象低温区的低端分别为N1、N2,则其余温区的高端、低端温度相应的灰度值如表1所示,ICCD三个曝光时间分别选用2、0.5、0.1ms,结合测量距离等因素,可使宽温度范围分区后各个温区的两波长热辐射均在ICCD的动态范围之内,从而可以实现宽温度范围的测量。
表1 各个温区双色热图象高端、低端灰度
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